SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X : XRF 

Depuis sa création en décembre 1951, Rigaku a été à la pointe de la technologie d'instrumentation analytique et industrielle. Aujourd'hui, avec des centaines d'innovations majeures à leur crédit, le groupe de compagnies Rigaku sont des leaders mondiaux dans les domaines de la diffractométrie  et attachent de la valeur au peuple et visent à répondre aux besoins des clients et de rester près du marché.

XRF est une technique spectrométrique aux rayons X pour l’analyse élémentaire d’une grande variété de matériaux. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.

Analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)  permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons, des huiles et liquides aux solides, métaux et polymères ,poudres, pâtes, revêtements et films minces.