Conçu pour être facile à utiliser, même pour les novices en la matière, le 2060 XRF Process Analyzer garantit un fonctionnement efficace et des résultats fiables. En utilisant notre analyseur XRF de procédé, vous avez accès à des données de composition précises sans altérer ou endommager vos matériaux.
En savoir plus ! La fluorescence X est une méthode qui permet d'analyser des éléments dans diverses matrices d'échantillons sans
les endommager, révélant ainsi les éléments qu'elles contiennent.
Lorsque l'échantillon est exposé à des rayons X de haute énergie, des électrons proches du noyau sont éjectés de
leur orbite. L'atome est dans un état excité. La désexcitation se fait par transition électronique. Au cours de ce processus,
l'énergie excédentaire est émise sous forme de rayons X fluorescents avec des niveaux d'énergie caractéristiques propres à
chaque élément présent dans l'échantillon
Le 2060 XRF Process Analyzer capture ces rayons X émis et détermine la concentration des éléments spécifiques
d'intérêt dans l'échantillon. Le 2060 XRF Process Analyzer intègre un détecteur de dérive au silicium (SDD) à haute résolution
et la technologie Axon™ éprouvée. Grâce à son électronique spéciale à très faible bruit, cette technologie augmente le
nombre de comptages de rayons X par seconde (cps), ce qui permet d'obtenir des résultats plus rapides et plus précis.
les endommager, révélant ainsi les éléments qu'elles contiennent.
Lorsque l'échantillon est exposé à des rayons X de haute énergie, des électrons proches du noyau sont éjectés de
leur orbite. L'atome est dans un état excité. La désexcitation se fait par transition électronique. Au cours de ce processus,
l'énergie excédentaire est émise sous forme de rayons X fluorescents avec des niveaux d'énergie caractéristiques propres à
chaque élément présent dans l'échantillon
Le 2060 XRF Process Analyzer capture ces rayons X émis et détermine la concentration des éléments spécifiques
d'intérêt dans l'échantillon. Le 2060 XRF Process Analyzer intègre un détecteur de dérive au silicium (SDD) à haute résolution
et la technologie Axon™ éprouvée. Grâce à son électronique spéciale à très faible bruit, cette technologie augmente le
nombre de comptages de rayons X par seconde (cps), ce qui permet d'obtenir des résultats plus rapides et plus précis.
L'analyseur XRF
> Analyse non destructive du magnésium à l'uranium dans des échantillons liquides (z=12 à 92)
> Analyse rapide - Résultats en moins de 60 secondes
> Jusqu'à 10 points d'échantillonnage possibles pour l'analyse XRF en ligne
> Techniques d'analyse multiples sur une seule plateforme (XRF, titrage et photométrie)
> La surveillance manuelle des valeurs aberrantes (à l'aide d'analyseurs XRF de paillasse, par exemple) peut
s'avérer difficile en raison de facteurs tels que les changements environnementaux affectant les caractéristiques
de l'échantillon ou les retards dans l'analyse de l'échantillon. Cependant, avec la mise en œuvre d'analyseurs en
ligne, tels que le 2060 XRF Process Analyzer, les données en temps réel sont collectées en continu directement à
partir de l'échantillon process, fournissant des informations précises et instantanées sur les conditions du
processus.
> Fonctionnement 24 heures sur 24, 7 jours sur 7
> Analyse non destructive du magnésium à l'uranium dans des échantillons liquides (z=12 à 92)
> Analyse rapide - Résultats en moins de 60 secondes
> Jusqu'à 10 points d'échantillonnage possibles pour l'analyse XRF en ligne
> Techniques d'analyse multiples sur une seule plateforme (XRF, titrage et photométrie)
> La surveillance manuelle des valeurs aberrantes (à l'aide d'analyseurs XRF de paillasse, par exemple) peut
s'avérer difficile en raison de facteurs tels que les changements environnementaux affectant les caractéristiques
de l'échantillon ou les retards dans l'analyse de l'échantillon. Cependant, avec la mise en œuvre d'analyseurs en
ligne, tels que le 2060 XRF Process Analyzer, les données en temps réel sont collectées en continu directement à
partir de l'échantillon process, fournissant des informations précises et instantanées sur les conditions du
processus.
> Fonctionnement 24 heures sur 24, 7 jours sur 7
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De l'ammoniac dans les saumures saturées et les engrais à l'extraction et la purification du zinc, nous avons tout fait. Notre livre d'applications donne un large aperçu des applications vendues au cours des 40 dernières années à l'industrie des procédés. Avec plus de 10 000 analyseurs de process installés dans le monde, vous pouvez être sûr de trouver une solution à votre problème.
Le 2060 XRF Process Analyzer est un appareil d'analyse de processus en ligne non destructif utilisant une technologie de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF). Cet analyseur garantit un contrôle précis et pratiquement en temps réel de flux d’échantillons liquides au sein de processus industriels.
Capable de connecter jusqu'à 20 points d'échantillonnage
Dans le cadre de la plateforme 2060, il intègre parfaitement plusieurs techniques d'analyse dans une seule plateforme unifiée. Découvrez la puissance de l'association XRF avec le titrage ou la photométrie pour obtenir des informations complètes sur les processus comme jamais auparavant.
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Le 2060 XRF Process Analyzer